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摘要：提出了一种安全可控的可测性设计DFT（Design For Test）。DFT既能够完成对SoC的测试，又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。

关键词：可测性设计 集成电路 微系统芯片

一种安全可控的SoC可测性设计.pdf

关键词： SoC 可测性设计 信息安全