了解机电开关的工作寿命和可重复性及其对总体拥有成本的影响(08-100)

  作者:Agilent Technologies 时间:2009-02-27来源:电子产品世界

 

  图7 碎屑被推开

  避免微粒(碎屑)聚集的设计

  已经有充分的证明显示当外来微粒进入触点时,开关孔洞中的碎屑可能导致ad-hoc失败或开关可重复性问题。通常,微粒有两个常见来源:

  ·制造过程中的污染;

  ·材料磨损。

  通过在组装之前对射频微波元器件进行彻底清洁(例如通过超声波),可以减少制造过程中的污染碎屑。

  在搭接片触点的运动过程中,当两个表面接触时会因为磨损而产生微粒。微粒的数量取决于摩擦力的大小和接触材料的倾斜度。因此,在设计阶段应认真考虑搭接片触点的接触面积、采用的材料和电镀轮廓。

  安捷伦的导杆设计是一个非常好的例子。它使用两个细推杆驱动每个接触搭接片,从根本上防止了任何旋转或滑动的出现。与传统设计相比,它取消了额外的中心杆,并且两个推杆的表面积较小,进一步减少了可能的微粒聚集。

  可重复性对测量不确定度的影响

 

  图8 包括多端口测试仪的PNA网络分析仪

  开关的可重复性对测试设置的测量不确定度有直接影响。图8显示与测试多个器件的多端口测试仪相连的PNA。本例中,可以使用任意端口同时对总共3个2端口器件进行测试。由于这些误差是随机误差而不是系统误差,所以计算总体测量不确定度的正确方式是使用平方和的平方根(RSS)。在此介绍两种情况:

  情况1

  PNA可重复性 = 0.01 dB,EM开关可重复性 = 0.03 dB

  总体测量不确定度= = 0.044 dB

  情况2

  PNA可重复性 = 0.01 dB,EM开关可重复性 = 0.1 dB

  总体测量不确定度= = 0.142 dB

  EM开关的可重复性对系统的总体测量不确定度有重大影响,从而影响进行的所有测量的精度。Agilent EM开关使用擦拭作用设计去除微粒聚集,以保持0.03dB的可重复性技术指标。这一设计具有十分重要的意义,因为可重复性对系统的总体测量不确定度有重大影响,而且不确定度越低,测试成本就越低。

  结语

  选购EM开关时,工作寿命和开关可重复性是两个最重要的标准。工作寿命主要取决于搭接片触点机制、接触电阻以及所有主要射频元器件所采用的材料和电镀工艺,所有这些因素都应在设计阶段认真考虑。考虑到这些因素而设计的开关可以明确规定可重复性技术指标。

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关键词: Agilent ATS EM

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