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　　图2 “闭合的”射频线路

　　由图3可以看出，搭接片触点通常较厚且不灵活。在“断开”和“闭合”过程中，搭接片触点和推杆进行垂直运动，在搭接片触点和中心导体之间不会产生摩擦力，因此称为“无摩擦开关切换”。

　　图3 传统EM开关配合架构

　　尽管这种设计能够使机械驱动装置的寿命达到几千万次，但仍有许多严重缺陷。搭接片触点和中心导体之间的连续碰撞将会逐渐造成越来越大的磨损，并产生一些碎屑。这些碎屑以及长期积累的灰尘和污染物会一起留在端头上。结果，随着时间的延长，接触电阻将会增加，从而使得插入损耗增加。这不一定会导致开关达不到其射频技术指标，但随着时间的增加，将会对插入损耗可重复性产生巨大影响。在开关的整个寿命期内，这些微粒会在中心导体的表面上不断堆积，其随机性意味着这种故障可能时断时续，无法被检测出来。导致这种不利结果的罪魁祸首正是没有弹性的搭接片触点设计。因此，具有这种设计特性的开关达不到可重复性技术指标或者根本没有可重复性是很常见的事情。

　　图4 微粒聚集现象

关键词： Agilent ATS EM