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　　带有弧刷机制的EM开关接触机制

　　为了提高开关的可重复性，延长其工作寿命，开关设计必须能够在每次通断后对中心导体的端头进行“清洁”，以消除传统EM开关设计中普遍存在的微粒聚集。

　　擦拭作用原理是一种广为人知的方法，并且已经应用于继电器和键盘开关中以解决触点的腐蚀和碎屑问题。在机电开关中，正确设计的擦拭作用机制能够显著延长开关电气寿命和保持开关可重复性。安捷伦在EM开关设计上运用了擦拭作用原理，并且在触点上使用了适当的润滑剂和表面抛光工艺。这种独特的设计使开关不仅可以保持所有的射频技术指标，还具有优异的可重复性――在开关工作寿命内小于0.03 dB。事实上，这种擦拭作用能够将接触区域的所有微粒(碎屑)都清除掉，使开关能够“自我清洁”。然而请注意，过多的擦拭作用和高接触压力会在两个表面之间产生过多的摩擦，从而也会产生碎屑。关键是在触点之间产生适量的擦拭作用。

　　图5 “微观擦拭”开关配合架构

　　图5中，安捷伦机电开关系列采用了擦拭作用机制。连接器的中心导体轮廓设计成球形配合表面。这个配合表面略带弯曲，以便在搭接片触点和这个配合表面之间产生极小的向下力和微小运动。这一运动可以通过使用较薄和有弹性的搭接片触点设计来实现。这种设计能够加强两个表面之间的微观擦拭效果。擦拭作用通过破碎表面薄膜并把碎屑移走，不断地清洁接触区。图6和7显示了作用中的“擦拭”机制。

　　图6 一片“附着的”碎屑

关键词： Agilent ATS EM