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DDING-LEFT: 0px; PADDING-BOTTOM: 0px; MARGIN: 0px 0px 20px; WORD-SPACING: 0px; FONT: 14px/25px 宋体, arial; TEXT-TRANSFORM: none; COLOR: rgb(0,0,0); TEXT-INDENT: 0px; PADDING-TOP: 0px; WHITE-SPACE: normal; LETTER-SPACING: normal; webkit-text-size-adjust: auto; orphans: 2; widows: 2; webkit-text-stroke-width: 0px">　　图 3. 此处显示的是使用优化设置后的 Agilent X 系列信号分析仪获得的 ACLR 测量结果。与图 2 使用嵌入式 N9080A LTE 测量应用软件获得的结果相比，图 3 中的 ACLR 实现了 11dB 的改善。

　　总结

　　符合标准的频谱测量（例如 ACLR）对于射频工程师开发下一代无线系统具有极其重要的作用。然而使用 LTE 应用软件进行测量时，受多种因素的影响，邻近信道带宽的变化、发射滤波器的选择、不同带宽和不同干扰灵敏度的信道之间的射频变量的交互使得这些测量非常复杂。应对这一挑战的实用解决方案是使用安装有特定标准测量应用软件的频谱分析仪或信号分析仪。此组合能够减少复杂测量中的错误，自动配置限制表和指定的测试装置，确保测量具有出色的可重复性。使用分析仪优化技术可以进一步改善测量结果。

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关键词： LTE ACLR 测量技术