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　　图1. 此处显示了 E-TM1.2 测试信号的资源分配块（底部）。Y 轴表示频率或资源块，X 轴表示时隙或时间，白色区域表示信道 1，粉红色区域表示信道 2，其它颜色表示同步信道、参考信号等。

　　信道 1 的输出功率电平为 -4.3dB，其信道功率已经进行过降低。信道 2 的输出功率已经进行过增加，设置为 3dB。对于资源块分配图中的不同资源块，可以设置复杂的功率增加和降低选项。与所有资源块都处于同一功率等级的单个信道相比，得到的复合信号具有更高的峰均比。放大此类功率增加的信号可能非常困难。功率放大器中没有足够的功率回退（back-off），可能导致限幅。

随后，可以使用在 Agilent X 系列信号分析仪上运行的 Signal Studio 软件生成测试信号。生成信号之后，通过 LAN 或 GPIB 将波形下载到信号发生器。将信号发生器的射频输出端连接到信号分析仪的射频输入端，使用扫描频谱分析测量 ACLR 性能。在此例中，信号分析仪处于 LTE 模式，中心频率为 2.11GHz，选择了 ACP 测量。随后，通过从 LTE 应用程序中的一系列可用选项中（例如成对或非成对频谱、邻近信道和相间信道中的载波类型等选项），调用适当的参数和测试限制，根据 LTE 标准进行快速一键式 ACLR 测量。

　　对于 FDD 测量，LTE 定义了两种 ACLR 测量方法：一种是在中心频率和偏置频率上使用 E-UTRA（LTE）；另一种是在中心频率上使用 LTE，在邻近和相间的偏置频率上使用 UTRA（WCDMA）。图 2 显示了 E-UTRA 邻近和相间频偏信道的 ACLR 测量结果。对于此次测量，选择 5MHz 载波，由于下行链路有 301 个子载波，所以测量噪声带宽为 4.515MHz。

　　图 2. 此处显示的是使用 Agilent X 系列分析仪获得的 ACLR 测量结果。第一个频偏（A）位于 5MHz 处，集成带宽为 4.515MHz。另一个频偏（B）位于 10MHz 处，具有相同的集成带宽。

　　优化分析仪设置

　　虽然上述的一键式测量提供了非常快速、易用、依据 LTE 标准的 ACLR 测量，但是工程师仍然可以对信号分析仪设置进行优化，获得更出色的性能。有四种方法可以优化信号分析仪，进一步改善测量结果：

　　• 优化混频器上的信号电平――优化输入混频器上的信号电平要求对衰减器进行调整，实现最小的限幅。有些分析仪能够根据当前测得的信号值自动选择衰减值。这为实现最佳的测量范围奠定了良好的基础。其它分析仪（例如 X 系列信号分析仪）拥有电子和机械衰减器，可以结合使用两者来优化性能。在这些情况下，机械衰减器只需进行细微的调整便可以获得更出色的结果，步进大约为 1 或 2dB。

　　• 更改分辨带宽滤波器――按下分析仪的带宽滤波器按键，可降低分辨率带宽。注：由于分辨率带宽降低，所以扫描时间会增加。扫描速度的降低，可以减少测量结果和测量速度的变化。

　　• 启动噪声校正――一旦启动噪声校正功能，分析仪将会进行一次扫描，以测量当前中心频率的内部本底噪声，并将在以后进行的扫描中从测量结果中减去该内部本底噪声。这种方法能够显著改善 ACLR，在一些情况下，改善幅度高达 5dB。

　　• 采用另一种测量方法。除了使用默认的测量方法（集成带宽或 IBW）之外，也可以采用滤波 IBW 方法。该方法使用了更加陡降的截止滤波器。虽然这种方法会降低功率测量结果的绝对精度，但是对 ACLR 结果没有不利影响。

　　通过结合使用这些方法，信号分析仪可以利用其嵌入式 LTE 应用程序自动优化 ACLR 测量，实现性能与速度的最佳搭配。对于典型的 ACLR 测量，测量结果可能改善高达 10dB 或更多（图 3）。如果测量需要最高的性能，那么可以进一步调整分析仪设置。

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