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FastScan测试向量自动生成工具可以针对全扫描IC设计或规整的部分扫描设计生成高质量的的测试向量。其主要特点如下：

1. 支持对全扫描设计和规整的部分扫描设计自动生成高性能、高质量的测试向量；

2. 支持多种故障模型：stuck-at、transition、critical path和IDDQ；

3. 提供超过140条基于仿真的测试设计规则检查；

4. 提供高效的静态及动态测试向量压缩性能；

5. FastScan CPA选项支持在速测试用的路径延迟测试向量生成；

6. FastScan MacroTest选项支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成；

7. FastScan Diagnostics选项可以通过分析ATE机上失败的测试向量来帮助定位芯片上的故障；

8. ASICVector Interfaces选项可以针对不同的ASIC工艺与测试仪来生成测试向量；

9. 支持32位或64位的UNIX平台(Solaris, HP-PA)及LUNIX操作平台。

FlexTest的时序ATPG算法使它在部分扫描设计的ATPG领域拥有巨大的优势，它也可以显著提高无扫描或全扫描设计的测试码覆盖率；其内嵌故障仿真器可以估计功能测试码的故障覆盖率，然后在此基础上生成部分扫描并进行ATPG。其主要特点如下：

1. 可以使用已有的功能测试向量进行故障仿真；计算测试覆盖率；

2. 针对一般的时序电路或部分扫描电路的进行高效ATPG与故障仿真；

3. FlexTest Distributor选项提供的网络分布处理技术可以加速ATPG与故障仿真过程；

4. 支持多种故障模型：stuck-at、transition和IDDQ；

5. 提供超过140条基于仿真的测试设计规则检查；

6. 与FastScan和DFTAdvisor共享数据库，使得DFT与ATPG流程效率更高。

基于嵌入式压缩引擎的ATPG算法是下一代ATPG工具的发展趋势。TestKompress提供的嵌入式压缩引擎可以作为通用的IP很方便地集成到用户的设计，EDT(Embedded Deterministic Test)算法在保证测试质量的前提下显著地(目前可达到100倍)压缩测试向量数目，同时大大提高了测试运行的速度。其主要特点如下：

1. 在保证测试质量的前提下成百倍地减少测试向量的数目，成百倍地降低测试成本；

2. 引入嵌入式压缩引擎IP不需要对系统逻辑进行任何更改，对电路的性能没有任何影响；

3. 支持多种故障模型：stuck-at、瞬态和路径延迟、IDDQ；

4. 支持多种测试向量类型：Basic、clock-sequential、RAM-Sequential、时钟PO和多负载；

5. 与FastScan和DFTAdvisor共享数据库，使得DFT与ATPG流程效率更高。

广义的BIST技术包括LBIST、MBIST和边界扫描技术。LBIST技术是指在ASIC、IC或IP内核中自动插入内建自测试电路，以保证较高的故障覆盖率。由于它不需要在ATE机上加载测试向量，而且可以在芯片的工作频率下进行实速测试，所以它可以缩短测试时间，降低测试成本。LBIST工具可以自动生成BIST结构(BIST控制器、测试向量发生器和电路特征压缩器)的可综合RTL级HDL描述，并快速进行故障仿真以确定故障覆盖率。Mentor公司提供的LBIST工具BISTArchitect的主要特点如下：

1. 内建自测试技术降低了芯片测试对ATE测试机memory容量的要求；

2. 针对部件或系统进行内建自测试(BIST)的自动综合、分析与故障仿真，便于进行设计与测试的复用；

3. 实速测试和多频率测试确保了高性能、高质量的测试设计；

4. 全面的BIST设计规则检查确保了易用性、减少了设计时间、缩短了设计面市时间；

5.采用MTPI技术能够在获得最大故障覆盖率的同时将对设计的影响减至最低；

6. BIST部件的RTL综合和与工艺无关，可以保证设计复用；

7. 配合BSDArchetect可实现层次化的LBIST电路连接关系。

关键词： EDA 系统级 芯片测试 效率