用在各种ATE中的集成边界扫描(06-100)
在内电路测试系统中，UUT外设接口连接器通过测试夹具实现接入。靠内电电路测试器的I/O资源实现测试通道。用在可单独应用边界扫描测试系统的同一测试程序控制UUT的扫描链和内电路测试通道。
功能测试系统通过连接到测试仪I/O资源的并行I/O模块提供到UUT外设接口连接器的接入。在这种配置中，采用在可单独应用边界扫描系统和内电路测试仪中用的同样程序。
不同测试系统的I/O资源控制通过混合扫描驱动器实现，混合扫描驱动器用ATE软/硬件接口边界扫描软件和测试仪配置。
结语
HYSCAN给出不同板级ATE中集成边界扫描的另一方案。这一方案为不同的测试通道类型、精确的测试结果和测试覆盖范围统计之间提供便携性。UUT和测试I/O资源不必为了测试程序产生的目的而融合，而边界扫描测试开发与测试适配器类型和执行的测试系统无关。HYSCAN限于数字I/O，它能提供到混合信号测试的扩展。(益林)
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