用在各种ATE中的集成边界扫描(06-100)
对于边界扫描I/O模块、并行I/O模块、内电路测试针或其他ATE I/O资源都采用相同的I/O测试图形。当测试程序用于不同的ATE时，借助测试仪配置和连线表寻址实际的测试仪I/O资源。
图3示出具有边界描述控制器和附加测试仪I/O硬件的测试仪配置。边界扫描控制器提供到UUT的JTAG测试接入端口的存取和到测试仪I/O间传输是通过主总线接口而不是通过边界扫描链。
到具有混合扫描资源的UUT外设接口连接器的接入与采用边界扫描I/O模块(采用扫描链接入)所实现的测试覆盖范围具有同样的改善。然而，由于产品的I/O图形不能作为边界扫描链的一部分，而是做为并行I/O图形，所以，这些配置的测试程序可以端接。用其他ATE I/O资源，而测试程序不用作任何修改。由于I/O图形与UUT边界扫描描述无关，所以，测试覆盖范围统计不会改变。
表2给出采用融合UUT的边界扫描I/O模块与用混合扫描概念实现时，测试覆盖范围统计的差别。考虑UUT和测试仪资源分别保证精度和UUT定向测试覆盖范围统计。
基于混合测试图形的概念是把经过UUT边界扫描链的串行接入和经过测试仪I/O资源并行接入结合起来。测试仪I/O资源应个别地可编程做为输入，输出或三态。
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