电子产品世界

全面表征高速链路，如 PCI Express®，要求透过被测链路的多条不同通路执行发射机 (Tx) 和接收机 (Rx)测量，这给全自动测试环境带来了挑战，因为必须在实体上改变不同通道之间的同轴电缆连接。采用 RF开关矩阵可以在改变物理连接的同时进行多路测试，并实现自动软件测试。本文描述了怎样使用 Mini-Circuits® 的 RF 开关扩展自动多路测试的测试环境，以及怎样扩展到其他 RF 开关模块和技术。
PCI Express 端口的通路宽度一般为 x1、x4、x8 和x16， 这 给 全 自 动 Tx 或 Rx 测 试 带 来 了 挑 战。 通 过在测试通道中包括 RF 开关，我们可以在不过度改变DUT 和测试设备电缆的情况下实现多路测试。必须注意，应使 RF 开关的电气影响达到最小，确保测试对规范要求或验证测试计划是真实的。本文描述了使用Mini-Circuits RF 开关进行 Gen5 (32 GT/s) 多路测试，并就设置、自动测试提供了一些整体指引，并就通常遇到的挑战提出了建议。
本 文 将 重 点 介 绍 x16 测 试 要 求 的 RF 开 关 配 置， 这些开关型号将支持最多 18 条通路 (PCIe 最高一般是x16)，也将支持较低的通路数。推荐用硬电缆在不同开关组件之间建立固定连接，硬电缆可以向 Mini-Circuits 索取获得。本文前面给出了 CEM 测试图，但这些技术也适用于 BASE 测试，本文最后部分给出了对应图。

关键词： PCIE   PCI   EXPRESS   GEN   泰克   多路自动测试