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　　摘要：本方案采用安捷伦基带信号发生器与信道仿真仪N5106A PXB或安捷伦最新信号发生器N5182B/N5172B作为测试平台，通过Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE测试信号并经过信道衰落后送给基站进行解码从而可以统计出基站的吞吐率。

　　LTE(Long Term Evolution,长期演进)技术是第三代移动通信演进的主要方向。作为一种先进的技术，LTE系统在提高峰值数据速率、小区边缘速率、频谱利用率、控制面和用户面时延以及降低运营和建网成本等方面拥有巨大的优势。同时，LTE系统与现有系统(2G/2.5G/3G)能够共存，并且实现平滑演进。

　　LTE系统按照双工方式分为频分双工(FDD)和时分双工(TDD)两种。其中LTE-TDD制式相对于FDD制式具有频谱利用灵活、支持非对称业务等诸多优势，是中国通信业界力推的国际标准。

　　系统吞吐率是衡量TD-LTE基站综合性能的重要指标。吞吐率的测试需要基站(eNB)与测试仪器(模拟UE)之间实现实时反馈并动态调整。测试仪器不仅需要能够生成符合3GPP标准的TD-LTE 上行信号，同时还需要模拟相应的信道衰落模型，并且根据基站下发的ACK/NACK指令实时地调整发射信号的编码冗余因子，以模拟真实的通信环境。

　　HARQ测试原理

　　上行HARQ方式

　　LTE系统将在上行链路采用同步非自适应HARQ技术。虽然异步自适应HARQ技术与同步非自适应技术比较，在调度方面的灵活性更高，但是后者所需的信令开销更少。由于上行链路的复杂性，来自其他小区用户的干扰是不确定的，因此基站无法精确估测出各个用户实际的信干比(SINR)值。由于SINR值的不准确性导致上行链路对于调制编码模式(MCS)的选择不够精确，所以更多地依赖HARQ技术来保证系统的性能。因此，上行链路的平均传输次数会高于下行链路。所以，考虑到控制信令的开销问题，在上行链路使用同步非自适应HARQ技术。

　　上行HARQ时序

　　LTE TDD制式的上下行信号在时域上交错分布，因此其HARQ时序映射关系较FDD更为复杂。根据3GPP TS 36.213规定，TDD制式不同UL/DL Configuration下，下行子帧只在规定位置发送ACK/NACK指令，每个位置发送的ACK/NACK指令对应特定的上行子帧信号，如表1所示。　　

 

　　3GPP TS 36.141规定性能测试只需在配置1下进行，因此可以根据表1的描述得到配置1时的时序图。

关键词： 安捷伦 性能测试 信号发生器 TD-LTE 201305