东芝小型光继电器: 高速导通助力缩短半导体测试设备的测试时间

时间:2023-05-25来源:电子产品世界

中国上海,2023525——东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布,推出采用S-VSON4T封装的光继电器——“TLP3476S”,其导通时间与东芝当前产品TLP3475S相比缩短了一半。该产品于今日开始支持批量出货。

image.png

与东芝当前的产品TLP3475S相比,TLP3476S运行速度更快、结构更紧凑。该产品通过提高红外LED的光输出并优化光电探测器件(光电二极管阵列)的设计,可实现高效的光耦合,也提高了运行速度,将导通时间最大值缩短至0.25ms,时间为TLP3475S的一半。此外,由于采用了尺寸更小、外形更纤薄的S-VSON4T封装(最大厚度为1.4mm),TLP3476S的厚度比当前产品减小了20%。这有助于减少需要多个电路板的设备的尺寸。 

TLP3476S适用于继电器数量多,并需要更短开关时间的半导体测试设备电路。 

Ø  应用

-    半导体测试设备(高速存储器测试设备、高速逻辑测试设备等)

-    探测卡

-    测量设备 

Ø  特性

-    小型S-VSON4T封装:1.45mm×2.0mm(典型值),厚度=1.4mm(最大值)

-    高速导通时间:tON0.25ms(最大值)

Ø  主要规格

Ta25


image.png

关键词: 东芝 光继电器 高速导通 半导体测试设备

加入微信
获取电子行业最新资讯
搜索微信公众号:EEPW

或用微信扫描左侧二维码

相关文章

查看电脑版