电子产品世界

图3：SSCG功能为“开”时的EMI辐射特性

对测试结果进行比较之后，设计团队发现由于使用了SSCG功能导致电磁辐射显著减少。汽车电子工程师最大的挑战在于减少EMI辐射。客户支持团队每次向汽车厂商客户展示这些结果时，他们普遍都表现出了极大的兴趣。任何降低EMI的功能（此案例中为SSCG功能）都可以缩短上市时间、降低屏蔽和成本支出。

采用极近场EM扫描技术，供应商的设计团队可以通过一个桌面系统来计量并立即显示辐射的空间和频谱特性，避免以后在更高费用的模块、系统或整车级测试中出现问题。

EMI近场辐射特性：新一代串行解串器例子

这是同一家半导体供应商的第二个例子，该公司开发了一个通过串行解串器进行点到点传输的第二代芯片组解决方案。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。他们将双向控制通道一起嵌入高速串行链路中，从而实现了双向传输（全双工）。

为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性，设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。他们将原来的半双工板放在扫描仪上，进行基线测量。对待测器件加电后，他们在PC上激活了扫描仪。（参见图4）

图4：半双工和全双工串行解串器器件的EMI扫描的测试环境

采用同样的测试设置，设计团队用新一代全双工芯片组板替代了基线板，同时也针对每一条特性保持了同样的规格。如上文所述，需注意的是，空间扫描叠加在每次生成的Gerber设计文件上，以帮助工程师可以确定任何存在的辐射源。

基线（半双工）系统的空间和频谱特性如图5所示。图6展示了全双工模式下的辐射扫描结果。

图5：基线扫描结果：半双工模式下的串行解串器


图6：辐射特性：全双工模式下的串行解串器

设计团队对空间扫描结果和频谱扫描结果进行了仔细的对比。很多人可能认为辐射特性会由于扩展的双向传输功能而呈现出更高的电磁输出。而实际上，与基线相比，全双工模式下没有出现尖峰信号并且峰值辐射基本相似，甚至其EMI特性还略有改进（空间扫描结果呈现更深的蓝色）。测试结果证明全双工模式的新芯片组未出现明显的变化（见图3），设计团队在没有采取任何额外缓解措施的情况下实现了全双工功能。

关键词： 极近场 EMI扫描技术 汽车电子系统