电子产品世界

　　高通无线通信技术(中国)有限公司高级技术总监吴小平发表演讲《LTE-TDD –the global solution for unpaired spectrum》。吴小平博士提出了TDD/FDD无缝的互操作需求以及相关的解决方案，开阔了LTE全球化的视野。

　　罗德与施瓦茨测试用例开发与市场支持总监Thomas Eyring发表演讲《Testing of VoLTE and Video over LTE》, Thomas Eyring 博士介绍了R&S VoLTE和Video over LTE的解决方案，这是迄今最先进，最全面的测试方案, 包含了功能性测试，性能测试，以及语音质量，图像质量的测试。

　　罗德与施瓦茨中国区产品支持部总监金海良发表演讲《TD-LTE devices / smartphone testing》。金海良先生介绍了R&S LTE终端的解决方案，从芯片的研发到终端认证测试以及运营商自定义的验收测试，涵盖了终端在各个环节的全套的测试方案。

　　爱立信(中国)通信有限公司接入网I&V R&D经理杨国建先生介绍了TD LTE 自动化测试的概念与发展趋势,从硬件、软件、GUI等多个方面进行了论述。

图9 爱立信(中国)通信有限公司接入网I&VR&D经理杨国建发表演讲《TD LTE Test automation》

　　诺基亚解决方案与网络公司TD-LTE R&D 总监Peter Skov先生介绍了多天线技术，MIMO和波束成形的关系，以及波束成形技术演进的细节。

图10 诺基亚解决方案与网络公司TD-LTE R&D 总监Peter Skov发表演讲《Evolving TD-LTE Beamforming》

　　罗德与施瓦茨中国区产品经理马志刚博士介绍了MIMO技术所带来的挑战，以及R&S公司针对于MIMO的完整测试方案。

图11 罗德与施瓦茨中国区产品经理马志刚发表演讲《Higher order MIMO and testing》

　　中兴通讯深圳RRU部研发经理彭琳先生介绍了Small cell的典型应用场景，并指出了Small cell产品设计方面所面临的挑战，如安全，同步，干扰消除等。

图12 中兴通讯深圳RRU部研发经理Peng lin发表演讲《Small Cell application and design challenge》

关键词： 罗德 TD-LTE 测试方案

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