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图1. 此处显示了E-TM1.2测试信号的资源分配块（底部）。Y轴表示频率或资源块，X轴表示时隙或时间，白色区域表示信道1，粉红色区域表示信道2，其它颜色表示同步信道、参考信号等

信道1的输出功率电平为-4.3dB，其信道功率已经进行过降低。信道2的输出功率已经进行过增加，设置为3dB。对于资源块分配图中的不同资源块，可以设置复杂的功率增加和降低选项。与所有资源块都处于同一功率等级的单个信道相比，得到的复合信号具有更高的峰均比。放大此类功率增加的信号可能非常困难。功率放大器中没有足够的功率回退（back-off），可能导致限幅。

随后，可以使用在Agilent X系列信号分析仪上运行的Signal Studio软件生成测试信号。生成信号之后，通过LAN或GPIB将波形下载到信号发生器。将信号发生器的射频输出端连接到信号分析仪的射频输入端，使用扫描频谱分析测量ACLR性能。在此例中，信号分析仪处于LTE模式，中心频率为2.11GHz，选择了ACP测量。随后，通过从LTE应用程序中的一系列可用选项中（例如成对或非成对频谱、邻近信道和相间信道中的载波类型等选项），调用适当的参数和测试限制，根据LTE标准进行快速一键式ACLR测量。

对于FDD测量，LTE定义了两种ACLR测量方法：一种是在中心频率和偏置频率上使用E-UTRA（LTE）；另一种是在中心频率上使用LTE，在邻近和相间的偏置频率上使用UTRA（WCDMA）。图2显示了E-UTRA邻近和相间频偏信道的ACLR测量结果。对于此次测量，选择5MHz载波，由于下行链路有301个子载波，所以测量噪声带宽为4.515MHz。

图2. 此处显示的是使用Agilent X系列分析仪获得的ACLR测量结果。第一个频偏（A）位于5MHz处，集成带宽为4.515MHz。另一个频偏（B）位于10MHz处，具有相同的集成带宽。

优化分析仪设置

虽然上述的一键式测量提供了非常快速、易用、依据LTE标准的ACLR测量，但是工程师仍然可以对信号分析仪设置进行优化，获得更出色的性能。有四种方法可以优化信号分析仪，进一步改善测量结果：

●优化混频器上的信号电平——优化输入混频器上的信号电平要求对衰减器进行调整，实现最小的限幅。有些分析仪能够根据当前测得的信号值自动选择衰减值。这为实现最佳的测量范围奠定了良好的基础。其它分析仪（例如X系列信号分析仪）拥有电子和机械衰减器，可以结合使用两者来优化性能。在这些情况下，机械衰减器只需进行细微的调整便可以获得更出色的结果，步进大约为1或2dB。

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关键词： LTE发射机 ACLR 性能测量