挑战毫微安小电流测量技术

时间:2012-09-04来源:网络

  这些应用使你确信测量小电流的困难。另外,也足以说明在这种高要求应用中使用经过验证的器件与设备的价值,无论是 Analog Devices 的 AD549、国家半导体公司的 LMC660、TI 的 DDC114 积分电路、Keithley 的 2400 参数测试单元,还是 Agilent 的 4156 参数测量单元。不过也要记住这些非凡的器件和仪器并不是魔盒。只有消除了电路板或测试装置中的噪声源和泄漏路径,才能够发挥它们的优点。了解运放针对电压和电流噪声的规范将有助于选择正确的器件(参考文献 10)。同时,如果你的老板想要知道为什么你买芯片要花 5美元或 10 美元,而一个电表却要几千美元,现在你可以解释给他听,因为考虑测量小电流的各种挑战,这种设备真不算贵。

参考文献
1. Long, James, "Sidebands be gone, or let there be (no) light," EDN, Oct 12, 2006, pg 40.
2. "AC current probes".
3. Mancini, Ron, "The nuances of op-amp integrators," EDN, March 18, 2004, pg 28.
4. Pease, Bob, "What's All This Teflon Stuff, Anyhow?" Feb 14, 1991.
5. Pease, Bob, "What's All This Femtoampere Stuff, Anyhow?" Sept

2, 1993.
6. www.national.com/nationaltv.
7. Daire, Adam, "Counting Electrons: How to measure currents in the attoampere range," Keithley Instruments Inc, September 2005.
8. www.keithley.com/wb/141.
9. "Quad Current Input 20-Bit Analog-to-Digital Converter," Texas Instruments Inc, June 2005.
10. Brisebois, Glen, "Op Amp Selection Guide for Optimum Noise Performance," Linear Technology Design Note 355, January 2005.

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关键词: 毫微安电流 电流测量 JFET CMOS

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