层出不穷的信号发生器可有效节省测试时间

时间:2009-11-04来源:网络

  AWG5000的关键指标是由14位DAC分辨率确定的动态范围。最大波形存储能力是32M个采样。两路输出经设置可以为数字调制测试同时提供I和Q信号。

  由于AWG5000具有宽频率范围和波形可编程功能,因此具有很大的灵活性,事实上它能实现任何形式的数字调制。加上其优异的位分辨率,AWG5000非常适合用于DAC和模数转换器(ADC)测试。对于DAC测试来说,从波形存储器输出到内部DAC的14位并行数字字可以直接输出。

  泰克的另一款AWG7000提供10Gsamples/s的基本DAC采样率。在两个通道上采用交织技术后可以达到20Gsamples/s,从而实现10GHz的波形。输出分辨率为10位。

  AWG7000主要用于测试带PCIExpress(PCIe)、SATA、Rapid-IO和以太网等接口的高速串行设备。其可编程特性可以让用户创建含有噪声和其它损伤的波形,从而实现更具鲁棒性的测试。

  AWG5000和AWG7000都有相应的信号发生软件。其中RFExpress用于实现数字调制波形创建,SerialExpress用于建立波形以测试高速串行接口和设备。还可以使用Matlab或LabVIEW等软件。

  射频发生器

  为了测试无线设备,工程师经常求助于射频(RF)发生器。这些发生器可以产生从10MHz到30GHz以上的信号。有两种基本的射频发生器,即连续波(CW)和矢量信号发生器(VSG),两者都具有某种形式的调制功能(图4)。数字信号发生是最常见的,但也有一些模拟型号仍在使用。

  射频发生器常用于代替本地振荡器(LO)。高稳定和高精度的参考晶振可用来驱动PLL合成器。N倍分频器通过前面板控制提供频率选择。PLL输出送至用于保持恒定输出信号的自动电平控制(ALC)电路。功放和可变衰耗器组成输出电路。其它电路提供调制功能。

  图4:虚拟设备初始化工具。

  射频发生器通过某种相关电路让调制信号改变压控振荡器(VCO)频率或相位来实现FM和PM。AM则利用输出电路中另外的可变衰耗器实现。

  有些时候,工程师还会增加由混频器和高频LO组成的额外上变频级电路来提高输出范围。例如钇铁石榴石(YIG)VCO就是用来将信号转换到近十千兆赫范围的常用LO。

  国家仪器(NI)公司的PXI-5652模块化射频发生器可以插入PXI机箱,与LabVIEW等软件一起工作在虚拟仪器环境中(图5)。它的频率范围是500kHz到6。6GHz。其它型号的频率上限是1。3或3。3GHz。频率上限为6。6GHz时的步距为4Hz,上限为1。3或3。3GHz时步距为1或2Hz。10MHz的内部频率标准提供最大±3ppm的精度。输出阻抗是标准的50Ω。

  图5:NI的PXI-5652RFCW发生器。

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关键词: 信号发生器 测试 AFG VSG

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