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　　边界扫描测试技术正在变热。从1990年开始，它是针对解决基于物理接触技术(如针床和浮动探针系统)的传统板测试的有限接入问题。IEEE1149.1边界扫描应用扩展已超出JTAG原来成员的想象。

　　现在有不少的相关IEEE标准，如1149.4、1149.6、1532和5001,加上两个主要的起初标准IJTAG(现在是IEEEP1687和SJTAG)。

　　·IJTAG(I指内部)用测试接入端口(TAP)做为进入系统芯片(SoC)或类似器件内部测试和调试仪器的主要通路形式。

　　·SJTAG(S指系统)用系统中由边界扫描使能板和某些背板总线形式(可用做测试总线)构成的边界扫描架构。

　　现在边界扫描应用正在向两个完全不同的方向发展。边界扫描能很好地解决某些边界问题，但不能解决全部问题。

　　边界扫描发展概况

　　图1示出自IEEE1149.1第一版本发布以来边界扫描技术蓬勃发展情况。边界扫描不仅仅在单板级扩展(1149.1、1149.6和1532),而且已进入核基设计(1500、5001,现在的P1687/IJTAG)并进入多板系统设计。

　　边界扫描能解决有关芯片、板和系统测试的所有问题吗？在做答此问题之前，我们必须定义一些共同术语以防误解。

　　器件定义为板上的实体。一旦器件组装在板上，则可以结构或功能观点测试板。结构测试可验证制造的性能指标，如制造过程期间引起的失效检测。

关键词： 边界扫描 IEEE