边界扫描测试技术(04-100)
在位于系统主机板上的嵌入式扫描控制器件的控制下，这些向量通过总体扫描链发送。这种系统级基础结构可用于执行从静态结构测试到嵌入式以BIST速度的测试。这也可以在现场更新可编程逻辑器件中的系统操作固件和配置码的修改版本。
用商用软件工具，在实践中实现所设计的理论性测试方法是可能的。这要考虑不同系统级结构的支持以及系统接口器件和测试配置的各种组合。
外部控制
图4给出在采用外部控制器时测试向量开发的数据流程，外部控制器包括配备PCI边界扫描控制卡的PC。一旦进行测试的检验，同样的测试向量格式存储在闪存中，在扫描主机的控制下广播到系统的从机板/模件。
图4示出在嵌入式系统主机测试处理器的控制下NS公司的ScanEASE软件驱动器如何用于控制向量传递。嵌入式向量来自同一ATPG(自动测试程序产生器)输出，这原来是为外部边界扫描测试开发的。其他测试总线控制器厂家(如Firecron公司)也提供类似的驱动器。
关键词： 嵌入式 IEEE1149.1
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